电子电器产品在使用、运输及贮存历程中，，，，，
，常面临高温或低温情形。
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。。。崎岖温情形试验通过模拟这类极端条件，，，，，
，磨练产品的情形耐受能力，，，，，
，其中国家标准 GB/T 2423.1-2008（低温试验 / 试验 A）与 GB/T 2423.2-2008（高温试验 / 试验 B），，，，，
，划分明确了详细测试要求。
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一、试验目的

两项试验焦点目的是确定产品在低温或高温情形中，，，，，
，能否维持正常使用、运输及贮存能力，，，，，
，重点评估产品在稳固温度条件下的性能体现。
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二、试验工具

非散热样品：测试时自身不发热或发热量极小的产品（如大都元件、欠亨电装备）。
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散热样品：测试时自身会爆发热量的产品（如通电运行的装备），，，，，
，判断标准为：样品外貌高热门温度较周围空气温度横跨 5K 及以上。
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三、试验要领

凭证样品类型与通电要求，，，，，
，试验分为以下种别：

试验 Ab/Bb（非散热样品适用）：温度呈渐变趋势（速率不凌驾 1K / 分钟），，，，，
，通常接纳高气流速率循环（便于温度快速稳固）。
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。。。样品一般处于非事情状态测试，，，，，
，待温度稳固后，，，，，
，可凭证需求通电检测。
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试验 Ad/Bd（散热样品适用）：温度呈渐变趋势，，，，，
，接纳低气流速率循环（模拟现实使用情形），，，，，
，样品需在温度稳固后再通电运行。
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试验 Ae/Be（散热样品且需全程通电适用）：温度呈渐变趋势，，，，，
，接纳低气流速率循环。
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。。。样品放入试验箱后即通电，，，，，
，随后启动温度转变程序。
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四、要害参数

温度：标准提供多组可选温度点

低温（GB/T 2423.1-2008）：-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃；；
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高温（GB/T 2423.2-2008）：笼罩 + 30℃至 + 1000℃，，，，，
，包括 + 40℃、+55℃、+70℃、+85℃、+100℃、+125℃、+155℃等常用节点。
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持续时间：标准给出建议时长，，，，，
，例如低温试验常用 2h、16h、72h、96h，，，，，
，高温试验常用 2h、16h、72h、96h、168h 等。
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。。。详细温度与时长需连系产品规范或应用情形确定。
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五、主要注重事项

包装要求：稳态试验时，，，，，
，通常需去除包装测试（除非产品规范要求带包装，，，，，
，或发热元件与包装不可拆分）。
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温度监控：需准确丈量试验箱事情空间的空气温度，，，，，
，传感器布设位置应阻止受样品散热影响。
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恢复流程：试验竣事后，，，，，
，样品需在试验箱内或标准情形中静置恢复足够时间（至少 1h），，，，，
，待其温度稳固后，，，，，
，方可开展检测。
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气流速率：针对散热样品，，，，，
，低气流速率是焦点要求，，，，，
，标准中明确了确认试验箱气流速率是否达标的要领。
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GB/T 2423.1-2008（低温）与 GB/T 2423.2-2008（高温）是评估电工电子产品耐温性能的基础性标准。
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。。。明确产品属于散热型照旧非散热型，，，，，
，以及测试时是否需全程通电，，，，，
，是准确选择试验要领（Ab/Ad/Ae 或 Bb/Bd/Be）的焦点条件。
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。。。试验的温度节点与持续时间，，，，，
，需连系产品现实应用场景确定，，，，，
，严酷遵照标准开展测试，，，，，
，可有用验证产品在极端温度情形下的可靠性。
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